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レーザ式欠陥検査器専門メーカ

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◎2017年3月14〜16日 2017慕尼黒上海光博会(LASER World of PHOTONICS CHINA)に出展致します。

◎2017年2月2〜4日 第21回「おおた工業フェア」に出展致します。
(公財)東京都中小企業振興公社「事業化チャレンジ道場」共同出展ブースにて(No.79)。

◎東京都「平成28年度第2回成長産業分野の海外展開支援事業」に選ばれました。
 商品名:「次世代パワ-半導体GaN、SiC検査装置」

◎2016年12月14〜16日 SEMICON Japan 2016 に出展済み。沢山のご来訪ありがとうございます。

◎2016年9月7〜9日 SEMICON Taiwan 2016 に出展済み。沢山のご来訪ありがとうございます。

◎2016年6月7日 レーザー散乱光式欠陥検査装置に関する「特許査定」を認証されました。

 詳細内容の検索は、特許庁「J-PlatPat」をご利用ください(特許公報:第5961909号)。

製品一覧
 
卓上型レーザー散乱光式欠陥検査機
第10世代大型石英原板欠陥検査装置
第六世代大型石英原板欠陥検査装置
レーザースキャン式AF顕微鏡
 
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